尼康新推出的N-SIM显微镜系统可获得传统光学显微镜两倍的分辨率。使用*的光学科技与制造技术，尼康享誉的Eclipse Ti研究级显微镜并配备的CFI Apo TIRF 100x oil物镜（N.A. 1.49），以此为基础又结合了由UCSF（University of California，San Francisco旧金山加州大学）所授权的SIM技术就形成了全新的N-SIM系统。N-SIM在实现超级分辨率的同时还能以0.6秒/帧的时间分辨率实现了业内zui高的超分辨率图像获取速度。
关键特性
几近传统显微镜双倍的分辨率
结合UCSF授权的“结构化照明显微术（S tructured I llumination M icroscopy）"与尼康声誉*的CFI Apo TIRF 100x oil物镜（N.A. 1.49）N-SIM几乎实现了传统光学显微镜两倍的分辨率。
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物料机型：N-SIM
